SE800adv-PV 紫外/可见光光谱椭偏仪
名称：物性分析测试仪器
品牌：
型号：
简介：简单信息： SENTECH光谱椭偏仪SE 800adv-PV被设计用来满足太阳能电池行业应用，尤其适用于粗糙表面上反射膜、玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜测量、薄膜厚度不均匀性分析、折射率的梯度分析。选件请参考SE800选件。可测量...
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- 产品介绍
简单信息： SENTECH光谱椭偏仪SE 800adv-PV被设计用来满足太阳能电池行业应用，尤其适用于粗糙表面上反射膜、玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜测量、薄膜厚度不均匀性分析、折射率的梯度分析。选件请参考SE800选件。可测量玻璃上aSi非晶硅薄膜、TiO2薄膜、CIGS薄膜、GdTe薄膜等
商品名称： 紫外/可见光光谱椭偏仪
商品型号： SE800adv-PV
SENTECH紫外/可见光/近红外光谱椭偏仪SE 800针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。
针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。
·快速、精确的椭偏测量与分析
·光谱范围宽达300nm－930nm
·步进扫描分析器（SSA）测量模式，提高信噪比
·宽带超消色差补偿器，用于去极化效应修正
·起偏器跟踪技术，计算机控制起偏器角度
·SpectraRay II－功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
·对专家和初学者同样易于操作
·SENTECH专有的材料数据库和样品应用程序，方便有效地建模
·SpectraRay复杂软件光谱椭偏分析包含复杂多角度、多样品数据分析，可编程用户接口和先进的报告
| 光学和机械部分: | ||
| 椭偏操作原理: | 结合PSA 和 PCSA 二种模式: | |
| P: 起偏器 | ||
| C: 补偿器 (超-消色差) | ||
| S: 样品 | ||
| A: 步进扫描分析器 | ||
| 光源: | 稳定75W 氙弧灯提供UV/VIS光谱 | |
| 寿命:超过1000小时 | ||
| 起偏器 / 分析器: | UV Glan Thompson 晶体 | 计算机控制检偏器和起偏器 |
| 消光比: | 10月6日 | |
| 测量光斑: | 手动可调直径范围1 mm -- 4 mm | 选件:200 μ 微光斑 |
| 探测系统 | 高灵敏度CCD | |
| 样品台: | 高度和水平独立精密调整 | |
| 样品对准: | 自动对准显微镜和光学显微镜适用于最准确的样品对准(聚焦和水平调整) | 选件: |
| CCD 像机, | ||
| 推荐用于硅太阳能电池测量 | ||
| 测量时间: | 全ψ / Δ 谱: | |
| 典型时间: < 10 s | ||
| 控制器: | 模块化单元带桌面椭偏光学透镜和量角器 | |
| 分立的19”机架包含光源, 椭偏仪控制器,带电路板和微控制器单元,光度计 | ||
| 计算机: | HP台式PC机, | |
| 17” TFT-FPD显示器, 键盘, 鼠标, Windows XP 操作系统 | ||
| 功率需求: | 额定电压:115/230 VAC | |
| 自动选择 (100-132 VAC or 207-264 VAC), | ||
| 额定频率: 50-60 Hz, | ||
| 额定功率: 350 W. | ||
| 环境: | 普通光学实验室环境，也可用于百级洁净室，不引入污染 | |
| 数据采集和分析软件: | |
| 光谱测量 | SPECTRARAY II操作与分析软件包括： |
| 系统校准 | |
| 自动设置光学组件 | |
| 手动执行用户定义的任务 | |
| 光谱以标准能量（波数、电子伏特）或者波长单位显示 | |
| 样品响应的逼真监视，在线的ψ和△表述 | |
| 数据处理： | ·SPECTRARAY II包括GRAMS软件包，可操作FT-IR系统和处理光谱数据 |
| ·输入/输出：ASCII，CSV，SPC，其他光谱设备 | |
| ·数学运算 | |
| 文件管理功能： | 软件基于Windows XP平台，提供全面的文件管理功能 |
| 用户定义界面： | 基于易用的源程序代码，用户可方便地定义测量、操作界面 |
| Accuracy / performance精度/性能 | |
| 准确度： | δ(Psi): 0.02 ° |
| δ(Delta): 0.04° | |
| (for at least 90% of all wavelength) | |
| 选件 型号 | |
| SE 800-2 | 计算机控制角度, 精度 0.01° |
| SE 800-3 | 微光斑选项, 200μm 光斑直径,UV/VIS |
| SE800-61 | 视频显示器用于对准、帧抓取、微区光斑 |
| SE 800-50 | 光谱扩展到近红外1700 nm |
| SE-800-NIR | 改善近红外光谱到2500 nm |
| SE 800-15 | Mapping样品台, x = 150 mm, y = 150 mm , (带真空吸附) 带快速扫描软件 |
| SE 800-16 | Mapping样品台,x = 200 mm, y = 200 mm,(带真空吸附)带快速扫描软件 |
| SE800-51 | 另一套软件SpectraRayⅡ |
| SE 800-30 | 膜厚探针FTPadvanced |
| SE 400-K100 | 标准片100mm直径,SiO2 on Si, 额定膜厚100 nm, 有校准证书 |
| SE 400-K80 | 标准片100mm直径, SiN on Si, 额定膜厚80 nm, 有校准证书 |
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