z6尊龙凯时

0731-84284278

SE800adv-PV 紫外/可见光光谱椭偏仪

名称:物性分析测试仪器

品牌:

型号:

简介:简单信息: SENTECH光谱椭偏仪SE 800adv-PV被设计用来满足太阳能电池行业应用,尤其适用于粗糙表面上反射膜、玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜测量、薄膜厚度不均匀性分析、折射率的梯度分析。选件请参考SE800选件。可测量...

  • 产品介绍

简单信息: SENTECH光谱椭偏仪SE 800adv-PV被设计用来满足太阳能电池行业应用,尤其适用于粗糙表面上反射膜、玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜测量、薄膜厚度不均匀性分析、折射率的梯度分析。选件请参考SE800选件。可测量玻璃上aSi非晶硅薄膜、TiO2薄膜、CIGS薄膜、GdTe薄膜等

SE800adv-PV

商品名称: 紫外/可见光光谱椭偏仪
商品型号: SE800adv-PV

  SENTECH紫外/可见光/近红外光谱椭偏仪SE 800针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。
  针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于最佳的椭偏光路设计,高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件,可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数,光学带宽等。

·快速、精确的椭偏测量与分析
·光谱范围宽达300nm-930nm
·步进扫描分析器(SSA)测量模式,提高信噪比
·宽带超消色差补偿器,用于去极化效应修正
·起偏器跟踪技术,计算机控制起偏器角度
·SpectraRay II-功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
·对专家和初学者同样易于操作
·SENTECH专有的材料数据库和样品应用程序,方便有效地建模
·SpectraRay复杂软件光谱椭偏分析包含复杂多角度、多样品数据分析,可编程用户接口和先进的报告 
 

光学和机械部分:
椭偏操作原理: 结合PSA 和 PCSA 二种模式:
P: 起偏器
C: 补偿器 (超-消色差)
S: 样品
A: 步进扫描分析器
光源: 稳定75W 氙弧灯提供UV/VIS光谱
寿命:超过1000小时
起偏器 / 分析器: UV Glan Thompson 晶体 计算机控制检偏器和起偏器
消光比: 10月6日
测量光斑: 手动可调直径范围1 mm -- 4 mm 选件:200 μ 微光斑
探测系统 高灵敏度CCD
样品台: 高度和水平独立精密调整
样品对准: 自动对准显微镜和光学显微镜适用于最准确的样品对准(聚焦和水平调整) 选件:
CCD 像机,
推荐用于硅太阳能电池测量
测量时间: 全ψ / Δ 谱:
典型时间: < 10 s
控制器: 模块化单元带桌面椭偏光学透镜和量角器
分立的19”机架包含光源, 椭偏仪控制器,带电路板和微控制器单元,光度计
计算机: HP台式PC机,
17” TFT-FPD显示器, 键盘, 鼠标, Windows XP 操作系统
功率需求: 额定电压:115/230 VAC  
自动选择 (100-132 VAC or 207-264 VAC),
额定频率: 50-60 Hz,
额定功率: 350 W.
环境: 普通光学实验室环境,也可用于百级洁净室,不引入污染  
数据采集和分析软件:
光谱测量 SPECTRARAY II操作与分析软件包括:
 
系统校准
自动设置光学组件
手动执行用户定义的任务
光谱以标准能量(波数、电子伏特)或者波长单位显示
样品响应的逼真监视,在线的ψ和△表述
 
数据处理: ·SPECTRARAY II包括GRAMS软件包,可操作FT-IR系统和处理光谱数据
  ·输入/输出:ASCII,CSV,SPC,其他光谱设备
·数学运算
文件管理功能: 软件基于Windows XP平台,提供全面的文件管理功能
用户定义界面: 基于易用的源程序代码,用户可方便地定义测量、操作界面
   
Accuracy / performance精度/性能
准确度: δ(Psi): 0.02 °
δ(Delta): 0.04°
(for at least 90% of all wavelength)
选件 型号  
SE 800-2  计算机控制角度, 精度 0.01°
SE 800-3 微光斑选项, 200μm 光斑直径,UV/VIS
SE800-61 视频显示器用于对准、帧抓取、微区光斑
SE 800-50  光谱扩展到近红外1700 nm
SE-800-NIR 改善近红外光谱到2500 nm
SE 800-15  Mapping样品台, x = 150 mm, y = 150 mm , (带真空吸附) 带快速扫描软件
SE 800-16  Mapping样品台,x = 200 mm, y = 200 mm,(带真空吸附)带快速扫描软件
SE800-51 另一套软件SpectraRayⅡ
SE 800-30  膜厚探针FTPadvanced
SE 400-K100  标准片100mm直径,SiO2 on Si, 额定膜厚100 nm, 有校准证书
SE 400-K80  标准片100mm直径, SiN on Si, 额定膜厚80 nm, 有校准证书

联系电话

0731-84284278

在线留言

关注z6尊龙凯时

TOP

您好,欢迎访问z6尊龙凯时

想要进一步了解z6尊龙凯时的产品和方案?

z6尊龙凯时7*24小时为您服务!

电话咨询:0731-84284278

稍后联系