中红外光谱椭偏仪 SENDIRA-F (不带FTIR)
名称：涂镀层测厚仪
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型号：
简介：SENDIRA-F 中红外光谱椭偏仪(不带FTIR) 厂商名称： SENTHCH 商品名称： 中红外光谱椭偏仪(不带FTIR) 商品型号： SENDIRA-F 简单信息： 中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品...
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- 产品介绍
SENDIRA-F 中红外光谱椭偏仪(不带FTIR)
厂商名称： SENTHCH
商品名称： 中红外光谱椭偏仪(不带FTIR)
商品型号： SENDIRA-F
简单信息： 中红外光谱椭偏仪具有大面积水平样品台，马达驱动可变入射角度，支持样品水平扫描，吹氮气去水蒸气保护红外光学透镜。提供新材料如有机物半导体, OLED和有机物光谱范围内振动光谱的优良结果。提供复杂多层膜上化学、机械、电气、光学信息。即可作为研发工具.
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