牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift
名称：物性分析测试仪器
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型号：
简介：牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成...
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- 产品介绍
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是一个先进、高速EBSD探测器。与Symmetry探测器一样，C-Swift使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度，以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。
C-Swift最大速度为1000pps，同时可获得高质量的花样分辨率(156x128像素）。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍，确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合，使C-Swift能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用, C-Swift可以以高达250pps的速度采集622x512像素的花样，使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。
这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件，从接近传感器到可选的集成前置探测器，都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift特点
当速度是关键时，C-Swift探测器达到了一个新标准：
- 仅需要12nA的电子束流，就能保证1000pps的标定速度
- 最高速度下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍
- 全分辨率花样（622x512像素）——精细的相分析和形变分析的理想选择
- 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°
- 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现最大的空间分辨率
- 即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成
- 波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性
- 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
- 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果
- 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
电子背散射衍射（EBSD）是一种基于扫描电子显微镜（SEM)），提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中，电子束与倾斜的晶态样品相互作用，形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到，它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此，衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件，常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域，以帮助材料表征，如下表所示。
AZtec EBSD系统结合了EBSD（ Symmetry ）的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能，为电子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。
| 行业 | 材料 | 典型的EBSD测量 |
| 金属研究和加工 | 金属，合金 | 晶粒尺寸 |
| 航天 | 金属间化合物 | 晶界表征 |
| 汽车 | 夹杂物/沉淀物/第二相 | 体织构 |
| 核能 | 陶瓷 | 局部织构 |
| 微电子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
| 地球科学 | 太阳能电池 | 再结晶或形变率 |
| 科研领域 | 地质 | 亚结构分析 |
| 半导体 | 相鉴定 | |
| 超导体 | 相分数和相分布 | |
| 冰 | 相变 | |
| 金属和陶瓷复合材料 | 断口分析 | |
| 骨头，牙齿 | 晶粒和相间的取向与取向差关系 |
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