自动大面积太阳能电池薄膜垂直测量系统 SenSol V
名称:涂镀层测厚仪
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型号:
简介:SenSol V 自动大面积太阳能电池薄膜垂直测量系统自动控制大面积垂直扫描,不带传感器,电池片尺寸160cmX100cm,两个同步传感器平台测量R反射和T透射玻璃传输。 可测量膜厚、片状电阻(接触法/非接触法)、绒面、禁带宽度、结晶态、内...
SenSol V 自动大面积太阳能电池薄膜垂直测量系统自动控制大面积垂直扫描,不带传感器,电池片尺寸160cmX100cm,两个同步传感器平台测量R反射和T透射玻璃传输。
可测量膜厚、片状电阻(接触法/非接触法)、绒面、禁带宽度、结晶态、内部量子效率、I(V)曲线
Sensol –M
大面积样品台 ,反射式测量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收层膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平扫描样品系统用于大玻璃平板
•雾状
•透射光谱T(λ) 和反射光谱R(λ)
•方块电阻:非接触法
•方块电阻:四探针
•膜厚测量探头
SenSol V
垂直扫描系统
•绒面
•透射光谱T(λ) 和R(λ)
•片状电阻Ω:光学法
•片状电阻Ω:4探针
•膜厚测量探头
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
商品名称: 自动大面积太阳能电池薄膜垂直测量系统
商品型号: SenSol V