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反射式膜厚仪RM1000/RM2000

名称:涂镀层测厚仪

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型号:

简介:简单信息: RM1000/RM2000 反射式膜厚仪紫外可见光谱反射干涉式膜厚仪,又叫白光干涉仪,可测量分析膜厚、光学常数、材料组分。可测量SiNx / mcSi单晶硅太阳能电池防反膜。 SENTECH Reflectometer RM能够...

  • 产品介绍

简单信息: RM1000/RM2000 反射式膜厚仪紫外可见光谱反射干涉式膜厚仪,又叫白光干涉仪,可测量分析膜厚、光学常数、材料组分。可测量SiNx / mcSi单晶硅太阳能电池防反膜。
SENTECH ’ Reflectometer RM能够在UV-VIS-NIR光谱范围对单层膜、多层膜和基底材料进行高精度反射光谱测量。可对吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率RM1000/RM2000

关键特性:
• 高精度反射率测量,非接触,正入射光
• 宽光谱范围,可从 UV至NIR
• 测量反射率曲线R, 薄膜厚度,折射率
• FTPexpert 软件,用于测量薄膜的光学参数
• 测量半导体混合物的组分 (例如: AlGaN on GaN)
• 分析各向异性薄膜

选项:
• 光谱范围扩展至DUV (200 nm)
• 光谱范围拓展至NIR (1700 nm)
• x-y 地貌图扫描样品台和软件
• 摄象头
• PC 

商品名称: 反射式膜厚仪
商品型号: RM1000/RM2000
 

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