反射式膜厚仪RM1000/RM2000
名称：涂镀层测厚仪
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简介：简单信息： RM1000/RM2000 反射式膜厚仪紫外可见光谱反射干涉式膜厚仪，又叫白光干涉仪，可测量分析膜厚、光学常数、材料组分。可测量SiNx / mcSi单晶硅太阳能电池防反膜。 SENTECH Reflectometer RM能够...
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- 产品介绍
简单信息： RM1000/RM2000 反射式膜厚仪紫外可见光谱反射干涉式膜厚仪，又叫白光干涉仪，可测量分析膜厚、光学常数、材料组分。可测量SiNx / mcSi单晶硅太阳能电池防反膜。
SENTECH ’ Reflectometer RM能够在UV-VIS-NIR光谱范围对单层膜、多层膜和基底材料进行高精度反射光谱测量。可对吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率
关键特性:
• 高精度反射率测量，非接触，正入射光
• 宽光谱范围，可从 UV至NIR
• 测量反射率曲线R, 薄膜厚度，折射率
• FTPexpert 软件，用于测量薄膜的光学参数
• 测量半导体混合物的组分 (例如： AlGaN on GaN)
• 分析各向异性薄膜
选项:
• 光谱范围扩展至DUV (200 nm)
• 光谱范围拓展至NIR (1700 nm)
• x-y 地貌图扫描样品台和软件
• 摄象头
• PC
商品名称： 反射式膜厚仪
商品型号： RM1000/RM2000
