牛津仪器 PlasmaPro 80 ICPCVD是一种结构紧凑且使用方便的小型直开式系统,可以提供多种刻蚀和沉积的解决方案。 它易于放置,便于使用,且能够确保工艺性能。直开式设计可实现快速晶圆装卸,是科学研究、原型设计和小批量生产的理想选择。 它通过优化的电极冷却和出色的衬底温度控制来实现高性能工艺。
牛津仪器 PlasmaPro 80 ICPCVD特征
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直开式设计允许快速装卸晶圆
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出色的刻蚀控制和速率测定
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出色的晶圆温度均匀性
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晶圆最大可达200mm
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购置成本低
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符合半导体行业 S2 / S8标准
牛津仪器 PlasmaPro 80 ICPCVD应用
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III-V族刻蚀工艺
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硅 Bosch和超低温刻蚀工艺
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类金刚石
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类金刚石(DLC)沉积
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二氧化硅和石英刻蚀
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用特殊配置的PlasmaPro FA设备进行失效分析的干法刻蚀解剖逆工艺,可处理封装好的芯片, 裸晶片,以及200mm晶圆
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高质量PECVD沉积氮化硅和二氧化硅,用于光子学、电介质层、钝化以及诸多其它用途
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用于高亮度LED生产的硬掩模沉积和刻蚀
牛津仪器 PlasmaPro 80 ICPCVD特点
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小型系统——易于安置
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优化了的电极冷却——衬底温度控制
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高导通的径向(轴对称)抽气结构—— 确保提升了工艺均匀性和速率
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增加<500毫秒的数据记录功能——可追溯腔室和工艺条件的历史记录
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近距离耦合涡轮泵——提供优越的泵送速度加快气体的流动速度
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关键部件容易触及——系统维护变得直接简单
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X20控制系统——大幅提高了数据信息恢复功能, 同时可以实现更快更可重复的匹配
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通过前端软件进行设备故障诊断——故障诊断速度快
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用干涉法进行激光终点监测——在透明材料的反射面上测量刻蚀深度 (例如硅上的氧化物),或者用反射法来确定非透明材料 (如金属) 的边界
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用发射光谱(OES)实现较大样品或批量工艺的终点监测—— 监测刻蚀副产物或反应气体的消耗量的变化,以及用于腔室清洗的终点监测