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DUV/VIS/NIR光谱型椭偏仪SE850DUV

名称:物性分析测试仪器

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简介:简单信息: 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度,并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响;深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料,测量膜厚0-10nm。可见光可测量折射率梯度。近红外使用FTIR,测量时间短...

  • 产品介绍

简单信息: 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度,并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响;深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料,测量膜厚0-10nm。可见光可测量折射率梯度。近红外使用FTIR,测量时间短(全光谱、多角度测量可在10分钟内完成).

 SE850DUV

 
商品名称: DUV/VIS/NIR光谱型椭偏仪
商品型号: SE850DUV
 

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