CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪
名称：涂镀层测厚仪
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简介：CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪是用机械量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不适用于压花得薄膜和簿片。CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定机械测量法》，该国家标...
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- 产品介绍
CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪是用机械量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不适用于压花得薄膜和簿片。CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》，该国家标准修改采用国际标准ISO4593-1993《塑料—簿膜和簿片—用机械扫描法测定厚度》。
CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪技术参数
测量范围：0~12.7mm
分度值：0.001mm
测头端部的力：上测量面为SR15mm~SR50mm曲率半径，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.1~0.5N；相当于10.2gf~51gf
