尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜
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简介：尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜运用结构照明显微镜技术，实现了2倍于传统光学显微镜的空间分辨率（约115nm）。作为一套精简、经济的超分辨率系统，N-SIM E支持常用的激发波长和基本的成像模式，是个人实验室的理想选择。 尼康...
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尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜运用结构照明显微镜技术，实现了2倍于传统光学显微镜的空间分辨率（约115nm）。作为一套精简、经济的超分辨率系统，N-SIM E支持常用的激发波长和基本的成像模式，是个人实验室的理想选择。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜结合“结构照明显微技术”，并搭配尼康知名的CFI超分辨率复消色差TIRF 100x油镜（NA 1.49），将空间分辨率提升至传统光学显微镜的近2倍（约115nm），可以观察细胞内结构的微小细节以及它们之间的相互作用。
*488nm激光激发，3D-SIM模式
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超分辨率成像（Slice 3D SIM 模式） 传统宽场成像
尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜实现高速超分辨图像获取，时间分辨率约1秒/帧，支持活细胞高分辨成像。Slice 3D SIM模式用于300nmZ轴分辨率的光学断层超分辨率成像。Stack 3D-SIM模式（选配）用于厚样品的多层序列超分辨率成像，具有比Slice 3D-SIM模式更高的成像对比度。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜专用的紧凑型LU-N3-SIM 激光台，预装了最常用的3个激光器（488/561/640），可进行多色超分辨率成像。用于研究细胞水平多个蛋白间相互作用以及动态过程。
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