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尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜

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简介:尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜运用结构照明显微镜技术,实现了2倍于传统光学显微镜的空间分辨率(约115nm)。作为一套精简、经济的超分辨率系统,N-SIM E支持常用的激发波长和基本的成像模式,是个人实验室的理想选择。 尼康...

  • 产品介绍
尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜运用结构照明显微镜技术,实现了2倍于传统光学显微镜的空间分辨率(约115nm)。作为一套精简、经济的超分辨率系统,N-SIM E支持常用的激发波长和基本的成像模式,是个人实验室的理想选择。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜结合“结构照明显微技术”,并搭配尼康知名的CFI超分辨率复消色差TIRF 100x油镜(NA 1.49),将空间分辨率提升至传统光学显微镜的近2倍(约115nm),可以观察细胞内结构的微小细节以及它们之间的相互作用。
 
*488nm激光激发,3D-SIM模式
    
 
 
      超分辨率成像(Slice 3D SIM 模式)                   传统宽场成像
 
 尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜实现高速超分辨图像获取,时间分辨率约1秒/帧,支持活细胞高分辨成像。Slice 3D SIM模式用于300nmZ轴分辨率的光学断层超分辨率成像。Stack 3D-SIM模式(选配)用于厚样品的多层序列超分辨率成像,具有比Slice 3D-SIM模式更高的成像对比度。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率显微镜专用的紧凑型LU-N3-SIM 激光台,预装了最常用的3个激光器(488/561/640),可进行多色超分辨率成像。用于研究细胞水平多个蛋白间相互作用以及动态过程。 

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