Keithley吉时利 半导体参数分析仪4200A-SCS
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简介:使用吉时利4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪) 加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是业内性能领先电学特性半导体参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试(IV曲线测试)、电容电...
10 aA - 1A
0.2 µV - 210 V
1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏置
±40 V (80 V p-p),±800 mA
200 MSa/s,5 ns 采样率
I-V 源测量单元(SMU)
C-V 多频率电容单元(CVU)
高压脉冲发生器单元(PGU)
4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50%,从而实现无与伦比的测量和分析能力。此外,嵌入式测量专业知识提供无与伦比的测试指导,并让您对最终结果充满信息。
特点
使用吉时利最新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业领先的 CVU 架构中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。
特点
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块,您可以在高电容系统中实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择,可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块,Keithley 可确保您获得最准确的低电流测量,而停机时间很少甚至没有。
特点
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
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