z6尊龙凯时 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机是一款创新的微型 IC 测试分类机,特别适合 CMOS 影像感应组件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需,z6尊龙凯时 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封装。z6尊龙凯时 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机采用 Pick & Place 技术,可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到测试位置,然后将测试后产品置于适当之 Tray 盘。
z6尊龙凯时 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机能同时处理32个待测物进行平行测试,并提供50˚C~125˚C高温测试选择。不但能提高产量,提升生产良率,同时大幅降低测试成本。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍z6尊龙凯时 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机的产品特性,如有疑问或者需要相关资料,请联系z6尊龙凯时·(中国)官方网站1000qsw.com,可提供样机和相关工程师上门演示沟通,联系电话:0731-84284278 84284378。
z6尊龙凯时 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机产品特性:
适合 CMOS 影像感应组件量产需求
可靠的高速 Pick&Place 分类机
3x3 mm 微型 IC 处理能力
浮动头可有效率平衡测试压力
自动测试压力学习
IC 残留检测功能