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半导体量产测试利器—— NI 半导体测试系统
- STS是一系列基于NI技术且适用于量产环境的半导体测试系统。STS在完全封闭的测试头(test head)里面集成了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具；
- 这些系统采用“集成到测试头”(tester in a head)的设计，将量产测试系统的主要组件全部集成在测试头中，包括系统控制器、直流、交流和射频仪器；
- 待测设备连接以及 handler/prober docking机制。如此紧凑的设计大幅减小了占地空间，降低了功耗，减轻了传统ATE测试系统的维护负担，从而节约了测试成本。此外，STS采用开放的模块化设计，使您可以利用最新的工业标准PXI模块，连接更多的仪器，获取更强大的计算能力。
现成即用的交互式软件
数字pattern编辑器是一款用于导入、编辑、调试和载入测试pattern的交互式工具。编辑器包含Shmoo绘图等工具，可帮助您更深入地了解不同条件下的DUT性能。您还可以使用丰富的调试功能，覆盖pattern的故障，或使用数字示波器工具查看pin数据。该软件还集成了芯片pin图、规格参数和pattern的编辑表，可让您开发、编辑或导入数字测试向量和pattern。
设备规范
所有设备都拥有或需要一个规范来规定它们的使用方式。测试工程师可以定义这些规范，并在数字 Pattern编辑器中将规范的参数用作 为公式中的变量。
数字示波器工具
该工具使用pattern、时序集(timing set)和电平，逐步更新数字波形实际模拟电平的二维图。
Shmoo工具
Shmoo工具可提供动态更新的合格/失败值强度图，而且可一次性 扫描两个变量，包括电平、电压、 电流、边沿或规格。
从实验室到量产测试，为何只需一个平台
过去IC较为简单且集成度较低，传统功能固定的台式仪器就足以满足实验室的需求。但随着集成度不断提高，测试要求也随之增加，所需的仪器也越来越多。z6尊龙凯时看到的验证测试台通常包含了众多仪器，这种测试台大大受限于可用的占地面积和机架空间。而且空间并非唯一的问题。台式仪器通常设计为独立工作而非协同运行；即使通过 GPIB 或以太网进行集成 ，也无法实现所需的高数据吞吐量、低延迟通信和紧密同步。
另一方面，量产ATE主要是用于满足对高度集成的微处理器、存储器和复杂SOC的需求。但是对于RF和混合信号IC，量产ATE很难进行扩展，而且通常无法提供所需的功能。总体而言，实验室的台式仪器和量产ATE等传统方法正在给芯片供应商带来业务风险。此外，代码模块无法复用或难以充分利用、培训“学用脱节”等都会导致效率低下，从而影响总测试成 本和产品上市时间。鉴于上述种种情况，是时候考虑基于PXI和NI软件平台的整体测试方法了。
