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z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块

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简介:z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块是z6尊龙凯时公司全权代理台湾Chroma公司的产品。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块的产品特性和功能应用,如有疑问或者需要相...

  • 产品介绍
    z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块是z6尊龙凯时公司全权代理台湾Chroma公司的产品。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块的产品特性和功能应用,如有疑问或者需要相关资料,请联系z6尊龙凯时·(中国)官方网站1000qsw.com,可提供样机和相关工程师上门演示沟通,联系电话:0731-84284278 84284378。
z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块图片
z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块产品特性:
相容于PXI 3U/混合式PXI汇流排
Date rate最高为100MHz
8个per-pin, per-cycle的 I/O双向控制通道
可扩充至64 pin
32M sequence command 内存
17种以上的pattern sequence 指令
Per-pin 控制架构
每一脚位有 32M vector 内存
每一脚位有 32 组 clock 及 waveform
可快速切换 Waveforms 种类
可编写的tri-level driver, 分辨率达 610uV
每个模块皆具备高电压驱动器
Per-channel PMU
Per-channel 时间量测组件
支持 scan pattern 功能
Windows 2000/XP 操作系统
支援 LabView 与 LabWindows
可选购专用软件 CRISP
 
z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块功能应用:

z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块应用范围

  • Logic and mixed signal validation and test
  • Digital pattern generator and vector capture
  • Consumer IC and electronics test
  • Logic test subsystem for DC and RF ATE

36010 可程控 100MHz 逻辑脚位模块,可用于特性分析、验证以及数字 / 混合讯号 IC或电子组件测试。每个模块包含一组Sequence Pattern Generator以及8个I/O双向控制通道。36010最多可扩充达64组通道以符合不同用途,此外,基于per-pin的架构, 每个通道皆配有32M的vector memory、32组clock、32组waveform与1个 PMU channel,与其他类似性能的 ATE 设备相比, 36010 可提供快速且精确的测试功能。

Sequence Pattern Generator 
36010 可程控逻辑脚位模块提供17种以上的 sequence 指令,包括 jump、match、 loop、 repeat等,可以控制pattern的执行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 内存,允许每行 vector 拥有独立的sequence command 来控制 pattern的执行流程。此外, 每个Sequence Pattern Generator 可以支持最多8个Logic Pin Electronics Cards, 即表示最多可支持64 个I/O channels 与8个 DUT同时测试。

z6尊龙凯时 Chroma 36010 可程控逻辑脚位模块逻辑脚位模块 
每张逻辑脚位卡皆采用 Chroma® PINF ICs 来达到高精准的timing及弹性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32组clock,包含6个可编辑的edges。至于 per-pin waveform generator则可提供每组I/O双向控制通道 32 组可编辑的 waveform,具有快速切换的特性。在 analog的功能中,逻辑脚位模块具有tri-level的 driver 与 comparator,可编写分辨率达610uV, 36010 同时配有 active load、per-pin PMU 以及高电压驱动功能。另外,36010 也支持scan pattern 功能,可进行扫描测试。

专用软件 CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
除了支持 LabView 与 LabWindows 环境之外, Chroma® 也提供了专用软件CRISP作为选择。为了涵盖各种IC debugging的需求,CRISP包含许多软件模块,CRISP的作业平台为Microsoft Windows XP®,使用 C++ 作为测试程序语言,提供用户简易、弹性化以及快速的图形化接口软件来符合各种需求。Project IDE tool 可以让测试程序的产生更为简单与快速;在 test program debugging 的场合,CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 软件工具,包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具给使用者。


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