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思看 TrackScan-P542 跟踪式三维扫描系统

名称:3D三维扫描仪

品牌:

型号:

简介:TrackScan-P系列跟踪式三维扫描系统TrackScan-P 系列跟踪式三维扫描系统由三维扫描仪和i-Tracker光学跟踪器组成,采用智能光学跟踪测量技术,配备超高分辨率智能相机,无需贴点即可完成超高精度动态三维测量,可在航空航天、...

  • 产品介绍

TrackScan-P系列跟踪式三维扫描系统

TrackScan-P 系列跟踪式三维扫描系统由三维扫描仪和i-Tracker光学跟踪器组成,采用智能光学跟踪测量技术,配备超高分辨率智能相机,无需贴点即可完成超高精度动态三维测量,可在航空航天、汽车制造、轨道交通、模具制造等行业满足质量控制、产品开发、逆向工程、自动化测量等多样需求。

TrackScan-P 系列三维扫描系统可搭配补光模块,光照更均匀,支持钣金件的圆、槽及机加孔精准测量;搭配T-Probe 跟踪式测量光笔工作,能精准获取工件的边界、圆、槽等特征;与机器人协同工作,实现智能在线自动化批量三维检测。

无需贴点

极速高效

边界检测

无限测量

边界检测 精准测量

新一代孔测技术,自动提取孔特征,无需导入CAD即可快速测孔,大大提升了孔测适应性及便捷性。

灰度值边界测量功能,搭配可拆卸式补光模块,光照更均匀,支持钣金件的圆、槽及机加孔精准测量,保证对应孔的位置度和孔径的重复性精度。

极速高效 无惧细节

基于不同的扫描场景需求,TrackScan-P系列可自由切换多种工作模式。高速扫描模式,扫描速率最高可达2,600,000次测量/秒;7束平行蓝色激光精细扫描,极致细节,精度可达0.025mm,满足各类工业测量需求;单束蓝色激光扫描,迅速获取深孔及死角位置三维数据。

无需贴点 智能跟踪

基于智能光学跟踪测量技术,TrackScan-P 系列跟踪式三维扫描系统无需贴点、即刻扫描,大幅提升工作效率、降低人力物力成本。

环境感知 超强适应

采用航空航天级碳纤维材质,稳定可靠,不易受环境、震动、温度等外界因素影响;具有超强环境适应性,轻松获取光亮、黑色材质物体三维数据。

多样适配 无限测量

支持多模式工作,多台跟踪头级联工作扩展扫描范围,有效应对大型工件扫描场景。

i-Tracker

搭配T-Probe 跟踪式测量光笔,支持多测针适配,单点重复性0.030 mm,获取基准孔、隐藏点等关键部位的精准数据。

T-Probe

搭配无线传输模块AirGO Pro工作,在移动端同步投屏展示数据结果,获得更为灵活便携的三维扫描体验。

 AIRGO

与机器人协同工作,搭建自动化三维测量系统AM-CELL,实现高效、批量化测量。

AM-CELL

i-Tracker配合工具模拟器及路径规划软件,构成M-Track机器人路径智能规划引导系统,赋予机器人“双眼”和“大脑”。

M-Track


技术规格

型号TrackScan-P550TrackScan-P542
扫描模式高速扫描42束交叉蓝色激光线34束交叉蓝色激光线
精细扫描7束平行蓝色激光线
深孔扫描额外1束蓝色激光线
精度(1)最高 0.025 mm
最大扫描速率2,600,000 次测量/秒2,200,000 次测量/秒
最大扫描面幅500 mm × 600 mm
激光类别ClassⅡ(人眼安全)
最高分辨率0.020 mm
体积精度(2)10.4 m³0.060 mm
18 m³0.075 mm
体积精度(配合MSCAN全局摄影测量系统)0.044 mm + 0.012 mm/m
T-Probe跟踪式测量光笔单点重复性0.030 mm
孔位置精度0.050 mm
扫描物体尺寸范围(建议)100–8000 mm
基准距300 mm
景深400 mm
输出格式.stl, .ply, .obj, .igs, wrl, .xyz, .dae, .fbx, .ma, .asc等,可定制
工作温度-10–40°C
工作湿度(非冷凝)10–90% RH
接口方式USB 3.0
认证CE, UL
专利技术CN106500627,CN106500628,CN206132003U,CN204854633U,CN204944431U,CN204902788U,CN204963812U,CN204902785U,CN106403845,US10309770B2,CN204854633U,CN105068384B,CN105049664B,CN106403845B,CN214375417U,CN214379242U,CN214379241U,CN109000582B,CN112802002B,CN210567185U,CN211121096U,CN214149174U,CN114001671B,CN114001696B,CN114554025B,CN114205483B,US10309770B2,US11060853B2,KR102096806B1,EP3392831B1

(1) ISO 17025实验室认可:依据VDI/VDE 2634 part3 标准和JJF 1951规范,对尺寸探测误差(PS)性能进行评估。

(2) ISO 17025实验室认可:依据VDI/VDE 2634 part3 标准和JJF 1951规范,对球心距测量误差(SD)性能进行评估。

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