布鲁克Bruker Dimension IconIR 纳米尺度红外光谱
名称：光谱仪
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简介：布鲁克大样品台Dimension IconIR系统将纳米红外光谱技术（AFM-IR）和扫描探针技术（SPM）集成到一个平台，为学术界和工业界用户提供先进的纳米光谱、化学成像和物理性质成像工具。IconIR结合了数十年的研究和技术创新，基于D...
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- 产品介绍
布鲁克大样品台Dimension IconIR系统将纳米红外光谱技术（AFM-IR）和扫描探针技术（SPM）集成到一个平台，为学术界和工业界用户提供先进的纳米光谱、化学成像和物理性质成像工具。IconIR结合了数十年的研究和技术创新，基于Dimension Icon ®原子力显微镜的最新平台，实现卓越的纳米级属性成像能力。该系统支持相关的显微镜和化学成像，具有超高空间分辨率和单层灵敏度，同时其独特的大样品台结构，提供极大的样本灵活性，大大扩展应用领域。
卓越的纳米红外功能和性能
在单个系统中，IconIR提供高性能纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单分子层灵敏度。
Dimension IconIR提供:
· 与FTIR高度一致的高性能纳米红外光谱，优于10nm化学成像分辨率和单分子层灵敏度
· 化学成像可与PeakForce Tapping®纳米机械和纳米电学关联
· 高性能AFM成像和极大的样品灵活性，可容纳大尺寸样品*
· 广泛适用的应用组件和AFM功能模块
*标准系统支持150mm大样品，也可提供能够容纳更大样品的版本
完整的关联研究显微镜
集成Bruker特有的PeakForce轻敲纳米物性成像和纳米红外光谱技术，Dimension IconIR系统的大样本平台特别适合于电学或化学反应环境中材料和活性纳米系统，甚至是具有强机械异质性的复杂系统的关联研究。
IconIR提供：
先进的定量属性成像技术
用于定量纳米化学，纳米机械和纳米电学表征的完整关联研究方案
包埋在环氧树脂中的碳纤维的纳米化学成像（AFM-IR）
包埋在环氧树脂中的碳纤维的纳米热物性成像（SThM）
包埋在环氧树脂中的碳纤维的纳米电学成像（PF-KPFM）
高性能纳米红外光谱
PS-LDPE共混物不同区域的高质量共振增强纳米红外光谱，展示了高度的材料敏感性和对纳米尺度材料特性的深入解析
布鲁克是基于光热AFM-IR纳米红外光谱技术的发明者，并拥有多项专利和独特的纳米红外模式。这些模式使IconIR能够提供与FT-IR光谱一致的高速、高性能光谱。模式的多样性为工业和学术用户的广泛样本提供测试支持。
IconIR提供：
与FT-IR一致的高性能，丰富，详细的光谱，实现单分子光谱
共振增强AFM-IR，纳米红外领域的首选技术，已发表大量科学出版物
高性能轻敲模式AFM-IR光谱
超高分辨率化学成像
Icon业界领先的AFM性能和Bruker专利的轻敲AFM-IR成像共同提高了纳米红外技术的空间分辨率和样品适用性，并将其应用扩展到光热AFM-IR技术目前尚未解决的领域。
IconIR提供：
· 优于10nm的空间分辨率，用于广泛的材料类型（包括软质材料）的化学成像
· 分子层灵敏度用于薄膜及生物结构成像
· 一致，可靠，高质量的可发表数据
· 聚合物薄膜的可靠表面敏感化学测量
超高分辨率PS-b-PMMA嵌段共聚物的轻敲AFM-IR成像 样品形貌（a）；1730cm-1的红外成像（b）和1492cm-1的红外成像（c）分辨突出显示PMMA和PS的分布。（b）图中的黄色箭头所示结构展示了优于10nm的化学分辨率。红外成像叠加图（d）显示组分的分布。
浅表面化学信息检测
表面灵敏模式采集表面涂层的光谱信息（绿色曲线），共振增强模式采集体积范围的信息，包括表面涂层和下层体材料（褐色曲线）
采用布鲁克最新专利表面灵敏模式，IconIR将探测深度从500纳米降低到数十纳米，无需制备截面，无缝结合高空间分辨率和高表面灵敏度。
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