布鲁克Bruker Anasys nanoIR3-s 纳米扫描近场光学成像系统
名称：光谱仪
品牌：
型号：
简介：布鲁克Anasys的 nanoIR3-s 系统将散射扫描近场光学显微镜（s-SNOM）、纳米级红外光谱（AFM-IR）与原子力显微镜（AFM）完美整合到单一平台。 依托 Anasys 技术在 AFM 纳米光学表征方面的领先地位，nanoIR...
申请服务
- 产品介绍
布鲁克Anasys的 nanoIR3-s 系统将散射扫描近场光学显微镜（s-SNOM）、纳米级红外光谱（AFM-IR）与原子力显微镜（AFM）完美整合到单一平台。 依托 Anasys 技术在 AFM 纳米光学表征方面的领先地位，nanoIR3-s 可提供纳米级红外光谱、化学成像和光学成像，在 2D 材料样品上实现 10 纳米空间分辨率。 该系统还可以提供达到纳米级分辨率的 AFM 形貌和性能成像，因此是对各种材料科学应用开展相关性研究的理想仪器。
石墨烯等离子体
石墨烯等离子体：石墨烯楔上表面等离极化激元（SPP）的 s-SNOM 相位和振幅图像。 （左图）s-SNOM 相位与 SPP 驻波线型截面； （右图） s-SNOM 振幅。 上图是相位图的 3D 视图（左图）。
高分辨性能成像
高分辨性能成像：通过石墨烯片的横截面显示了 10nm 以下分辨率的光学属性成像。
高性能纳米级 FTIR 光谱
超快宽带s-SNOM光谱，探测分子振动信息。 聚四氟乙烯（PTFE）激光干涉图显示，时域（上图）内发生自由感应衰减形式的相干分子振动。 样品干涉图中突出显示特征的形成原因是，C-F 模式的对称模式和反对称模式在所产生的频域跳动（左下图）。 单层 pNTP（右下图）上展示了纳米级 FTIR 的单层灵敏度。 数据提供：Markus Raschke 教授，美国科罗拉多大学博尔德分校。
只有 nanoIR3-s 能够提供：
高性能纳米级 FTIR 光谱
高性能红外近场光谱，采用目前最先进的纳米红外激光源
纳米级 FTIR 光谱，采用集成式DFG，可与宽带同步辐射光源集成
适用于光谱和化学成像的多芯片 QCL 激光源
点光谱技术
POINTspectra 激光器可执行多个波长的光谱分析和高分辨光学成像。 nanoIR3-s让测试更加简单：
1.在 AFM 图像中选择要测量的特征
2.测量样品的波谱，选择感兴趣的波长
3.采集高分辨光学属性图
根据对多个波长的干涉图的快速测量，获得空间分辨率达到 10nm 的振幅和相位图像 实现 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于独特的互补性红外光谱分析。
宽带激光选项
纳米级 FTIR 光谱，具有最广泛的可用光谱范围（670 至 4000 cm⁻¹）
nanoIR3-s系统配备可选的OPO/DFG飞秒激光技术，可提供最广泛的光谱范围，以实现高性能组合光谱和高分辨率纳米化学成像。这套独特的功能可以在历史上无法进入的光谱区域进行广泛的研究领域的研究。
互补的高分辨率成像
可以生成高质量、高分辨率的纳米光学图像，用于表征各种光学现象，例如六方氮化硼（hBN）中的石墨烯普拉蒙学和表面声子极化子，以及生物和其他有机样品的化学成像。
最新产品
相关产品
