布鲁克Bruker MATRIX-F II FT-NIR 过程光谱仪
名称：光谱仪
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型号：
简介：如今，光谱分析已成为一项非常重要的在线过程监测与优化技术。由光纤连接的探头可以直接监控生产过程，并且不存在时间延迟。MATRIX-F II 傅立叶变换光谱仪可以在过程反应器和管道中直接进行测量，让您更好地理解和控制生产过程。其创新性技术提供...
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- 产品介绍
如今，光谱分析已成为一项非常重要的在线过程监测与优化技术。由光纤连接的探头可以直接监控生产过程，并且不存在时间延迟。
MATRIX-F II 傅立叶变换光谱仪可以在过程反应器和管道中直接进行测量，让您更好地理解和控制生产过程。其创新性技术提供了一致的高质量结果、缩短了停机时间，并实现了方法的直接转移。布鲁克生产的所有过程光谱仪都具有坚固性、长期稳定性和维护成本低的特点。
数千台在线光谱仪已经安装和使用于化工、石化、聚合物和制药生产过程以及食品和饲料制造领域，是z6尊龙凯时过程控制丰富经验的有力证明。
如今，许多制造商不仅致力于生产具有最佳品质的成品，还希望通过将实验室分析技术应用于工厂，来改进生产效率。通过加大对生产过程的监控，制造商将能优化物料利用，减少甚至消除不合格产品的产生，从而最终避免造成再加工和废弃处理成本。
傅立叶近红外分析技术的实时在线监控的优势已众所周知。然而，传统的光谱仪只能安装在靠近监控生产线的地方，这意味着将分析操作人员暴露在高温高湿、噪音、粉尘等恶劣环境中。而且，测量点有时很难接近，甚至是防爆等危险区。
通过利用光纤技术，MATRIX-F II 主机可与实测点相距数百米，将探头直接安装在采样点，大大简化了工业现场测试的难度。此外，当环境特别恶劣时可将主机置于带空调的工业小屋内，这样可以消除极端温度影响，进一步优化光谱仪的性能，还可以保护 MATRIX-F II，防止其遭受过度污垢和灰尘。
常见的过程控制包括监测化学反应以及中间产品和成品的质量：
直接监测生产反应器和管道中样品
远距离测量
加深过程理解和控制
用于测定不同行业混合过程均匀性、化学品组分浓度和聚合过程状态的理想工具
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MATRIX-F II 是目前唯一的只用一台仪器就可对物料进行接触式测量和非接触式测量的光谱仪。有不同的测量附件可供使用：
光纤探头：可根据需要配置漫反射、透反射或不同光程长度的液体透射探头，以及流通池或其他试验性装置。还可根据物料性质选择配置不同材质的探头，如不锈钢、哈氏合金或陶瓷
非接触式测量的发射探头：非接触式发射探头内置钨灯光源，可以直接照射样本，并将收集的散射漫反射光通过光纤传输至光谱仪。通过这种方式，可以进行远程非接触式测量，实现一系列全新应用。它可以提供多达六个流通池或探头的光纤连接MATRIX-F emission或MATRIX-F II duple。
MATRIX-F II:
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MATRIX-F II: 经典 FT-NIR 光谱仪，通过光纤连接流通池或浸入式探头，用于固体或液体分析。
MATRIX-F II emission:
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MATRIX-F II emission: 特别版 MATRIX-F II 光谱仪，通过光纤连接非接触式发射探头，仅用于非接触式测量。
MATRIX-F II duplex:
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MATRIX-F II duplex：经典 MATRIX- F II 的扩展型号，可同时连接常规光纤探头和非接触式发射探头。
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