美国NI LCR 仪表 LCR 仪表 PXle-4190
名称：LCR测试仪
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简介：LCR 仪表PXle-4190 可测量并测试电子设备的电感、电容和电阻(LCR)。它包括一个具有 fF 级电容测量的 LCR 表和一个具有 fA 级电流测量的精密源测量单元(SMU)。您可以在电容-电压/电流-电压(CV/IV)自动测试系统...
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- 产品介绍
LCR 仪表
PXle-4190 可测量并测试电子设备的电感、电容和电阻(LCR)。它包括一个具有 fF 级电容测量的 LCR 表和一个具有 fA 级电流测量的精密源测量单元(SMU)。您可以在电容-电压/电流-电压(CV/IV)自动测试系统中使用 PXle-4190仪表，其可用于半导体应用，包括集成无源设备(IPD)、微电子机械系统(MEMS)、多层陶瓷电容器(MLCC)和参数测试。此外，PXle-4190还受到NI-DCPower仪器驱动程序的支持，其中包括用于 LabVIEW、C、C#.NET、Python和其他编程语言的 API。
