Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320
名称：误码率分析仪
品牌：
型号：
简介：Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320引入了能够支持第四代及以上新兴标准的接收机测试平台。通过增加强大的数据处理和内置发射机均衡技术，BERTScope 支持基于协议的握手功能，并与被测器件 (DUT) 同步，包括交互式链路训练，...
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- 产品介绍
Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320引入了能够支持第四代及以上新兴标准的接收机测试平台。通过增加强大的数据处理和内置发射机均衡技术，BERTScope 支持基于协议的握手功能，并与被测器件 (DUT) 同步，包括交互式链路训练，支持最高 32 Gb/s 的数据速率。Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320缩短了调试物理层和链路训练问题所需的时间，为满足各种标准提供了最快速的途径。
Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320主要性能指标
- 高达 32 Gb/s 的码型发生和误码分析功能
- 选配内置 4 阶发射机均衡功能，支持交互式链路训练
- 面向协议和面向位的多链码型定序技术，增强型码型/序列编辑器
- 激励响应反馈，用户自定义检测器码型匹配
- 已获专利的误码定位分析技术（Error Location Analysis™ ），超越BER测量，分析关联度和确定性错误码型，深入了解误码根源
- 选配前向纠错分析技术，根据测得误码位置码型仿真FEC后误码率
- 集成眼图和 BER 关联功能，包括模板测试、抖动峰值、BER轮廓
- 选配抖动分离及定位 (Jitter Map) 系统，提供丰富的抖动解析 – 支持长码型（如 PRBS-31）
Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320主要特点
- 为接收机压力测试、调试和一致性测试提供单一解决方案
- 测试第三代和第四代标准，包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各种自主开发的标准
- 超过 16 Gb/s 的 DUT 握手功能，满足环回发起和自适应链路训练的接收机测试要求，支持 PCIe 等主要标准
- 协议识别码型发生和误码检测，支持灵活的激励响应编程能力，调试握手问题。
- 前向纠错(FEC)仿真选项，可以测量纠错前和纠错后BER，支持常用的Reed-Solomon FEC代码。
- 为各种主要标准提供了校准和测试自动化软件
Tektronix泰克 误码率测试仪BSX320应用
- 设计验证，包括信号完整性、抖动和时序分析
- 测试高速串行系统、复杂设计的性能
- 设计/验证高速 I/O 组件和系统，包括 DUT 握手
- 信号完整性分析 – 模板测试、峰值抖动、BER轮廓、抖动分离及定位（Jitter Map)和前向纠错仿真
| 型号 | 通道 | 最大数据速率 | 排序器状态/电平 |
|---|---|---|---|
| BSX240 | 1 | 24 Gb/s | 128/2 |
| BSX320 | 1 | 32 Gb/s | 128/2 |
| BSX125 | 1 | 12.5 Gb/s |
128/2 |
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