秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜是一款可以挑战纳米设计应用的理想平台,秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜同时具备极佳的精度和微量分析的能力。秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜擅长的一些应用包括制备高质量的超薄TEM样品,在技术节点减少层级的过程,精确的纳米构图或高分辨率的三维重建。
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秦思肯 GAIA3 model 2016 高分辨扫描电子显微镜以独特的方式结合了三透镜物镜和crossover-free模式;先进的且可随意变化的探测系统可用于同步获取不同的信号;超高的纳米分辨率:15keV下0.7nm,1keV下1nm;极限超高分辨率:1keV下1nm;可变角度的BSE探测器,最优化了低能量下能量反差;实时电子束追踪(In-flight Beam TracingTM)实现了电子束的最优化;传统的TESCAN大视野光路(Wide Field OpticalTM)设计提供了不同的工作和显示模式;有效减少热能损耗,卓越的电子镜筒的稳定性;新款的肖特基场发射电子枪现在能实现电子束电流达到400nA,且电子束能量可快速的改变;为失效分析检测过程中的最新技术节点提供了完美的解决方案;适合精巧的生物样品成像;可观察磁性样品;优化的镜筒几何学配置使得8’’晶元观察成为可能(SEM观察和FIB纳米加工);独有的实时三维立体成像,使用了三维电子束技术友好的,成熟的SW模块和自动化程序;Cobra FIB镜筒:高性能的Ga FIB镜筒,实现超高精度纳米建模;在刻蚀和成像方面是最顶尖水平的技术;Cobra保证在最短时间内完成剖面处理和TEM样品制备FIB最佳分辨率<2.5nm;FIB-SEM断层分析可应用于高分辨的三维显微分析;适合生物样品的三维超微结构研究,例如组织和完整的细胞;低电压下绝佳的性能,适合于刻蚀超薄样品和减少非晶层。
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