布鲁克Bruker JV-QCVelox 半导体计量仪具有最佳HRXRD外延层的性能监控。布鲁克Bruker JV-QCVelox 半导体计量仪领先的LED制造商的系统监控是他们的生产线首选。布鲁克Bruker JV-QCVelox 半导体计量仪是基于行业标准JV-QC3,吞吐量的重要升级。通过使用最佳x射线源和光学技术,它的高吞吐量的重复性使快速反馈层的质量和结构在一个生产环境。像布鲁克Bruker JV-QCVelox 半导体计量仪提供真正的自动化操作,与直接的水平样本安装,完全自动对齐,测量包括完整的映射没有边缘排除,和自动数据分析。除了布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪,包括更高的吞吐量和条形码阅读器来帮助生产力在生产环境中。
一个可选的机器人处理程序可以自动加载和测量从磁带。布鲁克Bruker JV-QCVelox 半导体计量仪是半导体基板的常规分析的理想工具,外延层结构和加工设备对所有化合物半导体晶片材料。