布鲁克Bruker JV-QCRT 半导体计量仪
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简介：布鲁克Bruker JV-QCRT 半导体计量仪系统使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术来识别高价值基质中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射线衍射的本质,与光学技术不同,晶片不需要蚀刻或抛光能够看到的缺陷。CdTe CdHgTe...
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布鲁克Bruker JV-QCRT 半导体计量仪系统使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术来识别高价值基质中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射线衍射的本质,与光学技术不同,晶片不需要蚀刻或抛光能够看到的缺陷。CdTe CdHgTe广泛用于红外探测,特别是夜视,薄膜太阳能电池。对于这些应用程序,生长晶体的质量就变得很重要。布鲁克Bruker JV-QCRT 半导体计量仪用于检测晶体和基质的处理。
如果您需要布鲁克Bruker JV-QCRT 半导体计量仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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