布鲁克Bruker ContourSP 光学轮廓仪系统测量精度翻了不止一倍,高密度互连PCB(HDI-PCB)基板在上一代SP模型。布鲁克Bruker ContourSP 光学轮廓仪是专门设计来衡量每一层PCB板的制造,并包含了一系列先进的特性,提供最大的生产性能、方便、可靠性和吞吐量为半导体封装行业。
布鲁克Bruker ContourSP 光学轮廓仪利用直观的界面,生产提供快速和简单的基准对齐和可配置的用户输入。只有布鲁克Bruker ContourSP 光学轮廓仪能保证最低配方开发时间,最高产量、最大正常运行时间,每个测量面板的生产成本最低。
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