3506电容测试仪
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简介:电容测试仪3506与3505继承了3504获得好评的高速检查与测量值分类BIN功能,是可对低容量电容器实现稳定测量精度并符合市场要求的产品。与3504一样,C 测试仪 3506与3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB为标...
电容测试仪3506继承了3504获得好评的高速检查与测量值分类BIN功能,是可对低容量电容器实现稳定测量精度并符合市场要求的产品。与3504一样,C 测试仪 3506与3505的接口也采用外部I/O?RS-232C?GP-IB为标准配备,因此充实了简易构建自动化生产线的功能。 在已经发售的C 测试仪 3504的基础上新增本次发售的C 测试仪 3506与3505,可进行低容量到高容量的电容器C测量。各机型均可进行最快2ms的高速测量,除了可应对taping machine 之外,还可以通过可将C测量值划分为最多13或14*1类别的BIN功能应用于分选机。 另外,可保存最多99或70*2组的测量条件,除了可通过外部控制选择测量条件之外,还可以向外部输出比较器结果与BIN分选测量结果等,完善了便于构建与自动设备之间连接的接口。在构建高速自动化生产线上发挥出强大的威力。
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