ACCEXP-HX-DSP实验箱
名称：其他仪器与工具
品牌：
型号：
简介：ACCEXP-HX-DSP实验箱采用最新铝壳进行铝氧化，文字不易脱落。外观精致美观；采用最新一代CPLD进行设计；塑料外壳，速度比XDS100 V2快，支持TI CCS2.X、支持CCS3.1、CCS3.2、CCS3.3集成开发环境，支持C...
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- 产品介绍
ACCEXP-HX-DSP实验箱采用最新铝壳进行铝氧化，文字不易脱落。外观精致美观；采用最新一代CPLD进行设计；塑料外壳，速度比XDS100 V2快，支持TI CCS2.X、支持CCS3.1、CCS3.2、CCS3.3集成开发环境，支持CCS可仿真调试TI公司TMS320C2000、TMS320C3000、TMS320C5000、TMS320C6000、C3X、C4X、C5X、C8X及OMAP、TMS320DM642等全系列DSP芯片，相对适用型对电路进行了优化，速度快、屏蔽效果更好的优点。
配置清单
1、DSP开发板核心板一个
2、底板一个
3、进口步进电机一个 （已安装在板上
4、直流电机一个（已安装在板上）
5.320*240 2.4寸彩色液晶屏一个
6.精制铝箱一个
7、USB线一根
8、串口线一根
9、5V/1A开关电源一个
配套光盘一张
ACCEXP-HX-DSP实验箱是针对高校、研究所和中小企业小批量设计的需求而研发的。在听取广大DSP工程师意见的基础上，以保证DSP能稳定独立运行、外设资源充分扩展为原则，优化结构设计，注重EMC处理，无论在设计还是在工艺上，均用心完成。HX-2812实验箱为您提供了丰富的二次开发接口，能够为您的设计节约成本和时间
产品特点
片上存储器：
FLASH：256K×16-位
SRAM： 34K×16-位
Boot ROM：8K×16-位
OTP ROM： 1K×16-位
其中FLASH、OTP ROM和16K×16-位SRAM受密码保护，保护用户程序。
片上外设：
ePWM： 12路
HRPWM：6路
QEP：2通道
SCI异步串口：3通道
McBSP同步串口：2通道
SPI同步串口：1通道
eCAN总线：2通道
2C总线： 1通道
DMA：6通道
ADC：2×8通道、12-位、80ns转换时间、0～3V量程
看门狗
外扩设备：
外扩SRAM，最大容量为512K×16位，基本配置为256K×16位
外扩Nor FLASH，为512K×16位，型号为SST39VF800
外扩NAND FLASH，为(256M+8M)*8BIT，型号为K9F2G08
外扩12位串行DAC,型号为TLV5616
外扩12864的液晶接口
外扩RTC实时时钟+ 512×8-位EEPROM
外扩符合USB2.0标准的高速SLAVE端接口CY7C68001，支持USB2.0高速和全速标准
1路SCI进行收发驱动，接口标准一路为RS232
1路eCAN进行收发驱动，符合CAN2.0协议
提供McBSP接口的音频驱动，为AIC23
外扩SD接口
外扩485接口
外扩直流和步进电机模块
外扩32K的EEPROM
扩展12864外扩接口；
提供芯片复位，手动复位，电源测试点，按键，指示灯，启动模式拨码开关
标准的JTAG接口，方便调试
所有总线外扩
丰富的例程让您方便上手，进入DSP高端研发领域。
丰富的硬件接口资源将2812的功能发挥的淋漓尽致。
完善的技术支持服务，解决您的后顾之忧。
购此开发实验箱送HX-28335开发板视频
HX-28335开发板视频教程目录如下：
第一讲 DSP介绍
第二讲 CCS基础应用
第三讲 LED实验
第四讲 KEY实验
第五讲 SRAM
第六讲 LCD
第七讲 数码管
第八讲 蜂呜器
第九讲 外部中断
第十讲 EEPROM实验
第十一讲RTC实验
实验程序清单（所有实验都有源代码，并且进行了详细的讲解。）
LED测试
GPIO控制LED
定时器控制LED
PWM控制LED
状态机控制LED
蜂鸣器测试
GPIO控制蜂鸣器
定时器控制蜂鸣器
按键控制蜂鸣器
蜂鸣器歌唱
TIMER0定时测试
TIMER控制LED
TIME控制数码管
TIME控制DMA
ExInt外部中断测试
中断控制LED
中断控制数码管
中断控制DMA
中断控制蜂鸣器
按键测试
按键控制LED
按键控制数码管
按键控制蜂鸣器
按键控制电机
串口测试
按键配合串口实验
数码管配合串口实验
中断串口实验
使用FIFO的串口实验
直流电机测试
直流电机转动原理
直流电机调速
PWM控制直流电机
直流电机左右转动
步进电机测试
步进电机转动原理
步进电机左右转动
按键控制步进电机转动
步进电机调速原理
步进电机转速数码管显示
AD转换测试
AD配合LED显示
AD用12864显示
AIC23音频测试
AIC23播放警报声
AIC23播放回声
39VF800外扩FLASH测试
12864测试
12864绘图操作
12864显示字符操作
12864结合按键实验
12864配合ADC实验
EXRAM外部SRAM测试
CAN测试
CAN自测实验
外扩EEPROM读写测试
EEPROM基本读写
中断控制读写EEPROM
状态机控制读写EEPROM
RTC实时时钟测试
RTC实时时钟操作原理
RTC配合12864实验
串行DAC测试
串行DAC基本原理实验
DAC结合ADC实验
按键控制DAC
NAND FLASH测试
USB测试
SD卡测试
提供了完整的器件资料包括了所有用到的芯片的资料,PDF格式的原理图，详细的产品说明书供了完整的器件资料包括了所有用到的芯片的资料,PDF格式的原理图，详细的产品说明书 提供了CPLD的源代码方便你进行学习
配置清单
1、DSP开发板核心板一个
2、底板一个
3、进口步进电机一个 （已安装在板上
4、直流电机一个（已安装在板上）
5.320*240 2.4寸彩色液晶屏一个
6.精制铝箱一个
7、USB线一根
8、串口线一根
9、5V/1A开关电源一个
配套光盘一张
ACCEXP-HX-DSP实验箱是针对高校、研究所和中小企业小批量设计的需求而研发的。在听取广大DSP工程师意见的基础上，以保证DSP能稳定独立运行、外设资源充分扩展为原则，优化结构设计，注重EMC处理，无论在设计还是在工艺上，均用心完成。HX-2812实验箱为您提供了丰富的二次开发接口，能够为您的设计节约成本和时间
产品特点
片上存储器：
FLASH：256K×16-位
SRAM： 34K×16-位
Boot ROM：8K×16-位
OTP ROM： 1K×16-位
其中FLASH、OTP ROM和16K×16-位SRAM受密码保护，保护用户程序。
片上外设：
ePWM： 12路
HRPWM：6路
QEP：2通道
SCI异步串口：3通道
McBSP同步串口：2通道
SPI同步串口：1通道
eCAN总线：2通道
2C总线： 1通道
DMA：6通道
ADC：2×8通道、12-位、80ns转换时间、0～3V量程
看门狗
外扩设备：
外扩SRAM，最大容量为512K×16位，基本配置为256K×16位
外扩Nor FLASH，为512K×16位，型号为SST39VF800
外扩NAND FLASH，为(256M+8M)*8BIT，型号为K9F2G08
外扩12位串行DAC,型号为TLV5616
外扩12864的液晶接口
外扩RTC实时时钟+ 512×8-位EEPROM
外扩符合USB2.0标准的高速SLAVE端接口CY7C68001，支持USB2.0高速和全速标准
1路SCI进行收发驱动，接口标准一路为RS232
1路eCAN进行收发驱动，符合CAN2.0协议
提供McBSP接口的音频驱动，为AIC23
外扩SD接口
外扩485接口
外扩直流和步进电机模块
外扩32K的EEPROM
扩展12864外扩接口；
提供芯片复位，手动复位，电源测试点，按键，指示灯，启动模式拨码开关
标准的JTAG接口，方便调试
所有总线外扩
丰富的例程让您方便上手，进入DSP高端研发领域。
丰富的硬件接口资源将2812的功能发挥的淋漓尽致。
完善的技术支持服务，解决您的后顾之忧。
购此开发实验箱送HX-28335开发板视频
HX-28335开发板视频教程目录如下：
第一讲 DSP介绍
第二讲 CCS基础应用
第三讲 LED实验
第四讲 KEY实验
第五讲 SRAM
第六讲 LCD
第七讲 数码管
第八讲 蜂呜器
第九讲 外部中断
第十讲 EEPROM实验
第十一讲RTC实验
实验程序清单（所有实验都有源代码，并且进行了详细的讲解。）
LED测试
GPIO控制LED
定时器控制LED
PWM控制LED
状态机控制LED
蜂鸣器测试
GPIO控制蜂鸣器
定时器控制蜂鸣器
按键控制蜂鸣器
蜂鸣器歌唱
TIMER0定时测试
TIMER控制LED
TIME控制数码管
TIME控制DMA
ExInt外部中断测试
中断控制LED
中断控制数码管
中断控制DMA
中断控制蜂鸣器
按键测试
按键控制LED
按键控制数码管
按键控制蜂鸣器
按键控制电机
串口测试
按键配合串口实验
数码管配合串口实验
中断串口实验
使用FIFO的串口实验
直流电机测试
直流电机转动原理
直流电机调速
PWM控制直流电机
直流电机左右转动
步进电机测试
步进电机转动原理
步进电机左右转动
按键控制步进电机转动
步进电机调速原理
步进电机转速数码管显示
AD转换测试
AD配合LED显示
AD用12864显示
AIC23音频测试
AIC23播放警报声
AIC23播放回声
39VF800外扩FLASH测试
12864测试
12864绘图操作
12864显示字符操作
12864结合按键实验
12864配合ADC实验
EXRAM外部SRAM测试
CAN测试
CAN自测实验
外扩EEPROM读写测试
EEPROM基本读写
中断控制读写EEPROM
状态机控制读写EEPROM
RTC实时时钟测试
RTC实时时钟操作原理
RTC配合12864实验
串行DAC测试
串行DAC基本原理实验
DAC结合ADC实验
按键控制DAC
NAND FLASH测试
USB测试
SD卡测试
提供了完整的器件资料包括了所有用到的芯片的资料,PDF格式的原理图，详细的产品说明书供了完整的器件资料包括了所有用到的芯片的资料,PDF格式的原理图，详细的产品说明书 提供了CPLD的源代码方便你进行学习
