基于TDR的物理层测试系统
名称：频谱分析仪
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简介：基于TDR的物理层测试系统 Agilent物理层测试系统（PLTS）为描述单端或差分物理层元件（如：高速底板、电缆、连接器、数据包和电路板上的控制迹线等）提供了最准确的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS软件可支持时域反射计（TD...
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- 产品介绍
基于TDR的物理层测试系统 Agilent物理层测试系统（PLTS）为描述单端或差分物理层元件（如：高速底板、电缆、连接器、数据包和电路板上的控制迹线等）提供了最准确的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS软件可支持时域反射计（TDR）和4端口的矢量网络分析仪（VNA）。而且VNA和TDR拥有各种优势并可生成相似的测量结果。但二者相比，TDR系统的价格更经济也更便于使用，VNA系统却可产生更准确且可跟踪的测量结果。
主要特性与技术指标 •强大的分析工具，包括频域、时域反射计（TDR）、时域传输 （TDT）和眼图等
•对单端、差分、共模和模式转换设备进行全面表征
•标准化校准和自动通道校正（de-skew）算法可实现快速可靠的差分测量
PLTS与Agilent TDR相结合，可提供多种仪器控制，如引导设置和校准、错误纠正、采集、数据传输和高级数据分析工具等。由于测量单端和差分结构的程序非常麻烦且费时，所以经常会引发错误，而采用了这种引导过程就会显著降低错误发生的机率。
多种新型高数据速率串行总线标准都要求对输入差分插入损耗、回波损耗、阻抗以及近端和远端串扰等进行测量描述。而PLTS可直接对这些参数以及模式转换分析（用于分析EMI）进行测量。
基于TDR的物理层测试系统组成：
- 86100A/B/C主机
-1个或2个54754A TDR模块（进行差分频域分析时需要2个模块）
- N1930A物理层测试系统软件
注：物理层测试系统中的每个元件都是单独提供的。请参阅产品概述，获得更多详细信息。
•强大的分析工具，包括频域、时域反射计（TDR）、时域传输 （TDT）和眼图等
•对单端、差分、共模和模式转换设备进行完整的特征描述
•借助RLCG参数提取并创建用于模拟程序（如HSPICE）的精确传输线模型
•由于采用的标准化及参考平面校准技术超越了传统的垂直和时基校准技术，从而可通过从测量结果中去除电缆的电延迟和损耗，确保更准确的测量精度。
•通过自动的通道校正（de-skew）算法，实现快速可靠的差分测量
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