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梅特勒-托利多 XP205 分析天平

名称:精密分析天平

品牌:

型号:

简介:梅特勒-托利多XP205 分析天平规格: XP205 分析天平 最大称量范围 220 g 可读性 0.01 mg 线性 0.1 mg 重复性 0.015 - 0.03 mg 秤盘尺寸 78 x 73 mm 尺寸 263x487x322 mm...

  • 产品介绍

梅特勒-托利多XP205 分析天平规格:
XP205 分析天平
最大称量范围 220 g
可读性 0.01 mg
线性 0.1 mg
重复性 0.015 - 0.03 mg
秤盘尺寸 78 x 73 mm
尺寸 263x487x322 mm (WxDxH)
灵敏度(温度取样泵漂移) 1 x 10^-6/°C •Rnt
外部砝码校准 用户砝码
内部砝码校准 ProFACT专业全自动校准技术专业级全自动校准技术, 温度漂移和时间触发的全自动内校
接口 RS-232C
去皮范围 0...220 g
防风罩可用高度 235 mm
稳定时间 1.5 s
最小称量 (符合USP法规的典型值) 21 mg
最小称量 (typical, U=1%, sd=2) 1.4 mg
灵敏度偏差 2x10-6·Rnt
灵敏度精度 2.0 x 10^-6 •Rnt
灵敏度稳定性 1 x 10^-6/a •Rnt
XP205 分析天平
梅特勒-托利多XP205 分析天平标准特性:
SmartSens,无需用手接触的天平操作
SmartGrid,革新性的网格秤盘
SmartScreen彩色显示屏,触摸屏实现舒适的操作
ErgoClips易巧称量组件,可以安全放置所有去皮容器
LevelControl 天平未被置平时发出警告
自动且可拆卸的防风罩
ProFACT专业全自动校准技术
RS232 通讯接口
第二接口选件插槽 多种不同接口可供选择
高度可调的内部防风罩
塑料保护罩
下挂称量的专用挂钩
可分离且可调节的操作终端

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