HIOKI RM3542 RM3542-01 LCR微电阻测试仪
名称：LCR测试仪
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简介：HIOKI RM3542, RM3542-01 LCR微电阻测试仪用于元器件测量，测量低电阻。 HIOKI RM3542, RM3542-01 LCR微电阻测试仪可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量。 HIOKI RM35...
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- 产品介绍
HIOKI RM3542, RM3542-01 LCR微电阻测试仪用于元器件测量，测量低电阻。
HIOKI RM3542, RM3542-01 LCR微电阻测试仪可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量。
HIOKI RM3542, RM3542-01 LCR微电阻测试仪可用于制造工程中手动的取样检查。
HIOKI RM3542, RM3542-01 LCR微电阻测试仪实现了自动化系统中所要求的速度和高精度，双重检查功能保证准确接触，实现可靠性测试。
| 电阻量程 | [低功率OFF] 100 mΩ量程 (最大 120.0000 mΩ, 0.1μΩ 分辨率)) ~ 100 MΩ 量程 (最大 120.0000 MΩ, 100 Ω 分辨率), 10 步进 |
| [低功率ON] 1000 mΩ 量程 (最大 1200.000 mΩ, 1 μΩ 分辨率) ~ 1000 Ω 量程 (最大 1200.000 Ω, 1 mΩ 分辨率), 4 步进 | |
| 显示 | 单色图形 LCD 240 × 64 dot, 白色 LED 背光 |
| 测量精度 | [ 慢速模式下, 100 mΩ 量程] ±0.015 % rdg. ±0.002 % f.s. |
| [ 慢速模式下,1000 Ω 量程] ±0.006 % rdg. ±0.001 % f.s. (最佳情况) | |
| 测试电流 | [ 100 mΩ 量程] 100 mA DC ~ [ 100 MΩ 量程] 100 nA DC |
| 开放端口电压 | 最大20 V DC |
| 采样率 | 快速，中速，慢速, 3种设置 |
| 测量时间 | [100 Ω/1000Ω 量程,低功率关闭时] |
| 快速: 0.9 ms,中速: 3.6 ms,慢速: 17 ms | |
| 合并时间 | 0.1 ms ~ 100.0 ms, 或 1 ~ 5 PLC（50 Hz时）, 1 ~ 6 PLC（60 Hz时） |
| 注意: PLC = one power line cycle (主要波形周期) | |
| 其他功能 | 比较功能 (设定值和测量值的比较),延时功能 (可通过输入触发和测试线控制测试物的延时), OVC (开端电压补偿),测量错误检测 , 探头短路检测, 接触改善功能,自动保存, 数据统计, 设置监测 (当使用两个设备时，不同的设置会引发警报通知), 重启功能,触发功能等 |
| 接口 | RS-232C，打印机，GP-IB（RM3542-01） |
| 外部 I/O接口 | 触发, 输入保持, 比较输出, 设置监控端口 |
| 电源供应 | 100 ~ 240 V AC, 50/60 Hz, 最大30 VA |
| 体积及重量 | 260 mm W × 88 mm H × 300 mmD, 2.9 kg |
| 附件 | 电源线× 1, 外部 I/O 公头连接器× 1,操作说明书× 1, 操作指南× 1 |
