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以客户的成功定义成功,赋能企业创新,来自企业的信赖
肖特基势垒特性及杂质测量实验系统综合测试实训平台
2023-10-25
适用课程
1.半导体器件原理
2.固体物理基础
3.半导体材料基础
4.电子薄膜材料与器件
实验目的
1.掌握肖特基二极管的结构
2.掌握肖特基势垒结的形成原理
3.掌握肖特基二极管的整流特性和势垒电容
4.学会测量肖特基二极管的C-V特性
测量仪器设备
1.TH511E半导体器件CV特性分析仪
2.TH1992B精密源/测量单元
3.TH26011D直流偏置夹具
4.半导体元件实验盒
5.学会计算杂质浓度
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