Accexp代理的Chroma高加速应力测试方案
2017-05-03
高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验）是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性。
HALT试验是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法，现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6个月甚至1年的新产品可靠性试验缩短至一周，且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致，故HALT的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。
在产品研制阶段，为得出产品设计裕度和极限承载能力(破坏或损伤极限)而设计的一种试验，它应用步进的方法给产品施加环境应力并检测其性能，直到产品失效为止。为提高试验效率，所施应力并非工作环境的模拟而是加速应力，通常为高变温率(至少应大于25°C/min)的温度循环和多轴随机振动，还包括有通电循环、电压偏低、频率偏差等电应力。高加速寿命试验得到的应力极限值可以作为确定高加速环境应力筛选的应力量值的依据。
Chroma原厂资深工程师带来高加速应力测试方案
Chroma原厂资深工程师带来高加速应力测试方案
加速应力测试 = QualMark开发的技术
HALT
高加速寿命实验（Highly Accelerated Life Test）
于涉及期间暴露故障
用于延伸操作极限的机会
加速上市时间
减少保修要求
HASS
高加速应力筛选HASS (Highly Accelerated Stress Screen)
暴露于生产期间造成的故障
保证供应链的可靠性
HALT基本程序
◇将您的产品放置于一个逐步增加应力强度的环境
极限温度 (+200°C TO -100°C)
极快速温度变化率 (每分钟60度以上)
震动 (类随机;六自由度震动)
综合应力 (温度+震动)
◇在应力环境下测试被测产品以确认极限
◇发现故障, 解决故障或是做简单处置, 然后继续测试
◇停止测试当达到产品基本技术极限
Pin断脚
冷焊及空焊
线材松脱
HALT/HASS/HASA明显改善各行业保修期返还率
HALT效果调研
HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序，而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划，需要重复进行几次，除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。试验的主要功能如下：
1 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善；
2 了解产品的设计能力及失效模式；
3 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考；
4 快速找出产品制造过程的瑕疵；
5 增加产品的可靠性，减少维修成本；
6 建立产品设计能力数据库，为研发提供依据并缩短设计制造周期。
2008年调研显示没有Qualmark加速可靠性技术支持提供的综合环境应力，32%的故障模式将被错过。常规的设计测试技术（只有振动与只有温度），与现今的电子产品，找出故障模式的效果是比较差的。
Pin断脚
冷焊及空焊
线材松脱
HALT/HASS/HASA明显改善各行业保修期返还率
HALT的可靠性测试技术在国内外电子业界已得到广泛关注和认识。因其具有传统的环境试验技术难以媲美的功效，目前被国外众多知名企业采用。该试验直接体现出来的重要性，有以下几点：
1．快速暴露产品潜在缺陷；
2．通过试验 → 改进 → 验证这一循环方式，有效增加产品的极限值；
3．产品可靠性得到明显提升；
4．大大缩短产品研发、设计、生产和上市周期；
5．长远来看，降低产品成本。
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