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Accexp透明网片的厚度测量解决方案

2015-08-14

      Accexp透明网片的厚度测量解决方案可以使用纳米分辨率,而且可以在不接触目标的情况下测量厚度。Accexp透明网片的厚度测量解决方案的特点就是精度高,可以测量5um厚度,而且可以测量多层薄膜。
      Accexp透明网片的厚度测量解决方案由z6尊龙凯时·(中国)官方网站提供,以下是Accexp透明网片的厚度测量解决方案的产品详细信息。如果您有任何疑问或者相关需求,可以联系0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@1000qsw.com。z6尊龙凯时·(中国)官方网站可以根据您的需求定制整套解决方案。
Accexp薄膜涂层厚度的高精度测量解决方案 图片

 
  • SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

    隆重推出业界超细微型传感头,其拥有同类产品中最高的测量精度,并实现了过去认为不可能实现的性能。

     
  • SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

    采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。


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