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Accexp光学元件的平行度测量解决方案

2015-08-14

      Accexp光学元件的平行度测量解决方案用于检测光学元件上不正确的轮廓,Accexp光学元件的平行度测量解决方案的优点在于可以测量形状怪异几何体上的透明或不透明目标。
      Accexp光学元件的平行度测量解决方案由z6尊龙凯时·(中国)官方网站提供,以下是Accexp光学元件的平行度测量解决方案的产品详细信息。如果您有任何疑问或者相关需求,可以联系0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@1000qsw.com。z6尊龙凯时·(中国)官方网站可以根据您的需求定制整套解决方案。
Accexp光学制造测量解决方案 图片
 
  • LT-9000 系列 - 表面扫描激光共焦位移计

    Z 轴扫描: 对音叉运用共焦原理,实现高精度测量。 X 轴扫描: 振荡模块产生巨大的扫描区域。实现更高的测量稳定性。

     
  • LT-8100/8000 系列 - 激光共焦位移计

    革命性的全新位移计具备 0.1μm 的精确度


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